SJ 50033.14-1994 半导体分立器件.3DK305型功率开关晶体管详细规范
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日期: |
2024-7-27 |
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中华人民共和国电子行业军用标准,半导体分立器件,3DK305型功率开关晶体管详细规范,SJ 50033/14-94,1范围,1.I 主题内容,本规范规定了 3DK305A.G型NPN硅功率开关晶体管的详细要求。每种器件均按,GJB 33《半导体分立器件总规范》的规定,提供产品保证的三个等级(GP,GT和GCT级).,1.2 外形尺寸,外形尺寸应按GB 7581《半导体分立器件外形尺寸》的B2 — O1C型及如下规定(见图1):,图1,中华人民共和国电孑工业部1994-09-30发布,浮,符訳,B2-O1C,min nom max,4 8. 63,12.19,敵1.52,机0. 966 1.092,初22.86,d 5.46",F 3.50,L 840 13+9,厶1. 52,螃3. 84 4.21,q 29.90 30.46,ム13, 58,扁4. 82,S 16. 89",5 40.13,S 27.17,1994-12-01 实施,SJ 50033/14-94,1.3 最大额定值,型 号,ゲ,Tc 衣25 c,CW),ビ由,(V),%,(V),Vebo,(V),レ,(A),厶,(A) (C) (C),3DK3O5A 700 400,3DK305B 800 45,3DK3O5C 900 500,3DK305D 50 1000 550 6 2.5 Q.5. 175 -55-175,3DK3O5E 1100 600,3DK3Q5F 1300 700,3DK3O5G 1500 800,注:1)員〉25匕时,按333mW/ C的速率线性地降额.,1-4主要电特性(Ta =25じ),注;】)ル旳<40各档,其误差不超过±20%,瓦H >40各档,其误差不超过±10%.,\极限值,型号、,A. n,Vce FOV,Jc k 1?0A,匕霖丒丒ガリBEturt】'.a 4 /t,VCP -10V,Ic =0.1A,/=3. 0MHz,(MHz),Gb,VCH =10V,才E 0.1MHz,ム=0,(pF),Vce =25V,Ic =。, 7A,(*C/W),Ic — It 0A,厶=也2 A,(V),Ic - L OA,「即~ 0- 2A,1血=一0, 3A,(ps),max max min max max,3DK 305A .G 械 7-15,红15.25,橙25.40,黄40.55,绿 55-80,L0 2丒2 1. 0 1.5 LO 6 300 3.0,2引用文件,GB 4587双极型晶体管测试方法,GB 7581半导体分立器件外形尺寸,GJB 33 半导体分立器件总规范,GJB 128半导体分立器件试验方法,3要求,3.I 详细要求,各项要求应按GJB 33和本规范的规定,3.2 设计、结构和外形尺寸,-2 —,sj 50033/14-94,器件的设计、结构和外形尺寸应按GJB 33和本规范的规定。 ?,3 . 2.1引出线材料和涂层,引出线材料应为可伐,引出线表面应为锡层或镶层.对引出线滁层有选择要求时,在合同,或订货单中应予规定,3.3标志,器件的标志应按GJB 33的规定,4质量保证规定,4 .!抽样和检验,抽样和检验应按GJB 33和本规范的规定,4.2 鉴定检験,鉴定检验应按GJB 33的规定,4.3 筛选(仅对GT和GCT级),器件的筛选应按GJB 33表2和本规范的规定。下列测试应按本规范表1的规定进行,超,过本规范表1规定极限值的器件应予剔除,筛” 选,(见GJB 33的表2),测 试,GT和GCT级,7、中间电参数测试/cwi! 和んFE1,8、功率老化见 4, 3.1,9、最后测试按本规范表1的A2分组:,AZcm!其初始值的10。%或IQOfiA,取較大者,Mfei W初始值的士 2。%,4.3.1 功率老化条件,功率老化条件如下:,羽=162. 5±12.5'C,Ke = 25V,% >25W,4.4 质量一致性检験,质量一致性检验应按GJB 33的规定进行,4.4.1 A组検验,A组检験应按GJB 33和本规范表1的规定进行,4-4-2 B组检验应按GJB 33和本规范表2的规定进行,4.4*3 C组检验,C组检验应按GJB 33和本规范表3的规定进行,4.5检验方法,检验方法应按本规范相应的表和下列规定,¢5.1脉冲测试应按GJB 128的3. 3. 2.1的规定,3,SJ 50033/14-94,4.5 -2热阻,热阳测试应按GB 4587的2.10和下列规定,a.加功率时的ム=0. 7A;,b. VCE =25VS,c.基准温度测试点应为管壳I,広 基准点温度范围为25C<,<75C,实际温度应记录;,e.安装应带散热装置I,f.氏“4,的最大极限值应为3.QC/W,4.5.3 C组寿命试验,c组:与介试脸应按GJB 34和本规范的规定进行,4.5"恒定加速度,恒定加速度试验应按GJP 33和本规范的规定进行,变1 A组检验,检验或试验,GB 4587,LTPD 符号,极限值,单位,方法条 件min max,AI分组GJB 128 5,外观及机械检验2071,A/组5,集电极ー发射极本规箱发射极一基极开路,击穿电压附录A k =3mA,3DK3O5A 400 — V,3DX305B 450 — V,3DK305C 500 -- V,3DK3O5D 550 -- V,3DK305E 600 -- V,3DK3OCF 700 -- V,3DK305G 800 -- V,发射极一基极2.9 2.2 集电极一基极开路1 ド(師,EBO 6 — V,击穿电压……
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